SEMI規格対応マーキング
Semiconductor Equipment and Materials International
エルテックではSEMI規格
Semiconductor Equipment and Materials International M12.M13 T7に対応したマーキングを承っております。
SEMI規格とは
世界中の半導体業界やFPD製造、太陽光発電分野において、製品品質や生産性向上のために定められた国際的な業界自主ガイドラインです。
印字例
![SEMI規格-12インチシングルドット](https://ltecinc.co.jp/wp-content/uploads/2024/06/semi05-single-1024x683.jpg)
シングルドット
![SEMI規格-12インチダブルドット](https://ltecinc.co.jp/wp-content/uploads/2024/06/semi06-double-1024x682.jpg)
ダブルドット
![SEMI規格-ライン描き](https://ltecinc.co.jp/wp-content/uploads/2024/06/semi07-line-1024x683.jpg)
ソリッド
※サンプルの画像の文字列は規格外です
SEMI規格 ウエハ・パネル仕様適合表
![SEMI規格仕様適合](https://cmshp6.heteml.net/ltecinc/wp-content/uploads/2024/06/semi-tekigo-text--1024x148.png)
![SEMI規格ウエハ・パネル仕様適合表](https://ltecinc.co.jp/wp-content/uploads/2024/06/SEMIsiyotekigohyo.jpg)
- フォントスタイル: シングルドット / ダブルドット / ソリッド対応
- マーキング深さ: ソフトマーキング(1~5µm) / ハードマーキング(15~100μm)対応
※ 英数字桁数、英数字並びが規格から外れている場合はユーザー仕様となります
※ 規定されているマーキング位置でない場合はユーザー仕様となります
※ シリコン情報を含まないM13はM12(ユーザー仕様)となります
SEMI規格適合マーキング
![SEMI規格適合マーキング](https://ltecinc.co.jp/wp-content/uploads/2024/06/semi11.jpg)
SEMI規格準拠/適用マーキング
![SEMI規格準拠/適用マーキング](https://ltecinc.co.jp/wp-content/uploads/2024/06/semi10.jpg)
他材質のウエハについてもお問合せください。
マイクロスコープによる検査
マイクロスコープによる検査により精度保証をいたします。
![SEMI規格:マイクロスコープによる検査](https://ltecinc.co.jp/wp-content/uploads/2024/05/semi03-1024x682.jpg)
![SEMI規格:マイクロスコープによる検査](https://ltecinc.co.jp/wp-content/uploads/2024/05/semi04-1024x683.jpg)
読み取り保証
ウエハ専用リーダーにて読み取り精度を保証します。
![SEMIフォント読み取り保証](https://ltecinc.co.jp/wp-content/uploads/2024/06/semi10.png)
![T7コード読み取り保証](https://ltecinc.co.jp/wp-content/uploads/2024/06/semi11.png)